環境試驗箱用于電子電氣元件、自動化元件、通訊元件、汽車元件、電子芯片集成電路、半導體陶瓷、磁性和高分子材料的物理變化。測試材料耐高低溫的能力和產品在熱脹冷縮過程中發生的化學變化或物理損傷，以確認產品的質量。從精密集成電路到重型機械部件，也是各領域產品測試不可或缺的試驗箱。

 

　　為了保證整批電子元器件的可靠性，滿足整機的要求，我們需要排除在某些特定的使用條件下，最初可能失效的元器件。

　　1、高溫貯存。

 

　　電子元器件的失效大多是由于機體及表面發生各種物理、化學變化而引起的，而這些變化又與溫度密切相關。溫度升高時，化學反應速度大大加快，加速了失效過程。從而使有缺陷的部件能夠及時暴露出來并被淘汰。

 

　　高溫屏蔽被廣泛應用于半導體器件，可以有效地消除失效機制，如表面污染，鍵合不良，和氧化層缺陷。一般來說，它在最高結溫下儲存24至168小時。高溫貯存后，可穩定元器件的參數性能，減少使用過程中的參數漂移。

 

　　2、通電測試。

 

　　篩選時，在熱電應力的共同作用下，可以很好地暴露出元器件本體和表面上的許多潛在缺陷，環境試驗箱是進行可靠性篩選的重要項目。各種電子元器件通常在額定功率條件下進行幾個小時到168小時的精制。有些產品，如集成電路，不能隨意改變條件，但可以采用高溫工作方法，提高工作結溫，達到高應力狀態。

 

　　3、溫度循環。

 

　　電子產品在使用過程中會遇到不同的環境溫度條件。熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能差的部件很容易失效。溫度循環篩選利用了極端高溫和極端低溫之間的熱脹冷縮應力，環境試驗箱可以有效地淘汰具有熱性能缺陷的產品。常用的組分篩選條件是—55～125℃，5～10次循環。

 

　　電力精煉需要專門的檢測設備，成本較高，篩選時間不宜過長。民用產品通常是幾個小時，軍用高可靠性產品可以選擇100—168小時，而航空航天級部件可以選擇240小時或更長。

 

　　4、篩選組件的必要性。

 

　　在產品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設備條件的波動，最終成品不一定全部達到預期的固有可靠性。環境試驗箱在每一批成品中，總有一些產品存在一些潛在的缺陷和弱點，這些缺陷和弱點的特點是在一定的應力條件下早期失效。早期失效的組件的平均壽命要比正常產品短得多。